XAFS,台式X射线吸收精细结构谱仪RapidXAFS 1M

台式XAFS仪器实物图

产品原理

RapidXAFS 谱仪是采用罗兰圆结构和高指数面晶体进行单色分光，实现X-射线吸收/发射谱谱测量，是研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

性能特点：

Ø不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；

Ø不受元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；

Ø不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；

Ø对样品无破坏，可进行原位测试；

Ø能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01Å

XAFS谱主要包括两部分: X射线吸收近边结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 。EXAFS的能量范围大概在吸收边后50 eV到1000 eV， 来源于X 射线激发出来的内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应的结果。XANES包含了吸收边前约10 eV 至吸收边后约50 eV的范围，其主要来源于X 射线激发出的内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应。

产品优势

多功能：提供科研级高质量XAFS/XES图谱

高性能：1小时内完成1%含量样品测试

高光通量：≥1000,000 photons/sec@8Kev

配置灵活：可根据客户要求定制样品池，实现高温高压，低温低压，各种气氛条件下对反应过程原位观察

简单易用：只需半天培训即可上机操作

自主可控：90%部件自主可控，无政策风险

低维护成本：无需专人维护、操作、管理等

XAFS/XES数据已成为了期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。秉持着让XAFS/XES走进每个实验室的理念，推出全新的X射线吸/发射收谱仪平台（RapidXAFS 1M）。

RapidXAFS 1M 具有如下特点：

1.无需同步辐射光源即可提供XAFS测试；

2.台式体积，可放置于实验室内随时使用，极大节省了科研等待时间；

3.实现对催化剂的局域结构、价态分析；

4.实现原位测量（高温高压，低温低压，各种气氛条件下）条件下对反应过程原位观察，堪比高性能版本的静常压光电子能谱；

应用领域

- 新能源：

燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。

通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的

价态、配位环境及其动态变化。

- 催化：

纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形

态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低

的元素的近邻结构。

- 材料科学：

用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研

究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。

- 生物大分子：

用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的

生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。

- 环境科学：

广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价

态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。